
AT510X6 多路電阻測(cè)試儀
AT510X6多路電阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程、超高掃描速度、采用高性能微處理器控制的多路電阻測(cè)試儀。為您量身定做的多路電阻測(cè)試儀,定制量程,從1μΩ~400KΩ,zui大顯示3999數(shù)。受益于安柏*的電阻測(cè)量技術(shù),使得多路測(cè)試周期高達(dá)20ms/次,AT510X6 6路電阻測(cè)試儀為您提供每秒鐘高達(dá)120個(gè)器件的測(cè)試。配備Handler接口,將多路測(cè)試結(jié)果同時(shí)輸出給PLC。
| 技術(shù)規(guī)格 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| 性能特征 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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